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  • 日置 C测试仪3504-50
  • 日置 C测试仪3504-50
日置 C测试仪3504-50
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封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等    ● 高速丈量2ms● 能凭据C 和D (损耗系数*2)的丈量值,进行被测物合格与否的判断● 对应测试线,比力器职能/触发输出职能● 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试● 3504-40纪录工具,实现高速/低成本的测试● 查出全机丈量中的接触谬误,提高制品率    输入用探头/测试夹具,实体不附带。依照丈量主张,分歧型号有分歧的探头/测试夹具选件
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封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等

● 高速丈量2ms
● 能凭据C 和D (损耗系数*2)的丈量值,进行被测物合格与否的判断
● 对应测试线,比力器职能/触发输出职能
● 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
● 3504-40纪录工具,实现高速/低成本的测试
● 查出全机丈量中的接触谬误,提高制品率

输入用探头/测试夹具,实体不附带。依照丈量主张,分歧型号有分歧的探头/测试夹具选件

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SMD测试治具9699

用于底部有电极的SMD DC~120MHz,测试样品 尺寸:宽1.0~4.0mm,高1.5mm以下


SMD测试治具9677

用于侧面有电极的SMD DC~120MHz,测试样品 尺寸:3.5mm±0.5mm


SMD测试治具9263

直接衔接型, DC~5 MHz 测试尺寸: 1mm~10.0mm

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