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　　锁相热成像技术(Lock-in Thermography,LIT)的主题思造在于对被测物体(Device Under Test,DUT)执行周期性的热激励。这一激励过程通常涉及向DUT施加脉冲式电信号，随后利用高精度的红表热成像摄像机同步捉拿并纪录其表表温度的动态变动。由于摄像机的数据采集速度必须与电信号的引发频率严格同步，该技术因而得名“锁定”热成像。

　　我公司自主研发的Thermo50与Thermo100系列设备，正是以LIT技术为主题，集软硬件于一体的高端红表定位解决规划。这些设备凭借LIT技术的高信噪比、高活络度以及高空间分辨率个性，实现了对电性失效点的精确定位，极大处所便了技术人员急剧锁定故障区域，为客户深刻分解产品失效机理提供了不成或缺的工具。

　　我司产品凭借LIT技术的主题优势，已打造出具备卓越机能的红表定位设备，其在半导体、电子封装PCB造作等多个关键领域均展示出辽阔的利用远景。随着LT技术的持续进取与利用领域的不休拓展，这些红表定位设备将成为人类索求芯片内部失效原因、提升产品质量与靠得住性的沉要伎俩。