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　　产品简介:

　　SP26系列半导体参数分析仪是?款半导体电学个性测试系统，拥有?精度、宽丈量领域、急剧矫捷、兼容性强蹬着势。产品能够同时?持DC电流‐电压（I‐V）、电容‐电压（C‐V）以及?流?压下脉冲式I‐V个性的测试，旨在援手加快前沿资料钻延注半导体芯?器件设计以及先进?艺的开发，拥有卓越的丈量效能与靠得住性。

　　基于？榛南低辰峁股杓，SP26系列半导体参数分析仪能够援手?户凭据测试必要，矫捷选配丈量单元进?升级。产品?持?1200V电压、100A?电流、1pA?电流分辨率的丈量，同时检测10kHz?3MHz领域内的多频AC电容丈量。

　　SP26系列半导体参数分析仪采?专业半导体参数测试软件，?持交互式?动操作或结合探针台的?动操作，可能从丈量设置、执?、了局分析到数据治理的整个过程，实现?效和可沉复的器件表征
；也可与?低温箱、温控？榈却钆涫?，满??低温测试需要。